Как попасть на кафедру?
Следуйте данной инструкции
или оставь онлайн заявку.
2
Подайте заполненное заявление на базовую кафедру в Институт физики микроструктур РАН, комн. 223.
3
Пройдите собеседование с заведующим кафедрой
Методика измерения основных параметров многослойных рентгеновских зеркал
Руководитель
Барышева Мария Михайловна
Краткое описание работы
Лабораторная работа посвящена определению структурных параметров многослойных рентгеновских зеркал (период, индивидуальные толщины слоев материалов, плотности элементов, составляющих зеркало, межслоевые шероховатости) методом малоугловой рентгеновской дифракции. На дифрактометре ДРОН-3М снимается угловая зависимость коэффициента отражения жесткого рентгеновского излучения с длиной волны 0,154 нм от многослойной структуры. Определение структурных параметров производится при анализе экспериментальных данных.
Список оборудования
- рентгеновский дифрактометр типа ДРОН - 3 М (Буревестник, С. Петербург)
Составляющие:
- рентгеновская трубка
- гониометр (предметный столик)
- детектор рентгеновского излучения